光学外观检查系统(AOI) —— MIYABI 7

　　设备特色

● 变革印刷基板制造工序的AOI系统“升级版”

光学外观检查系统MIYABI 7随着智能手机、平板电脑等小型设备的进步，以及汽车的自动驾驶、防撞功能等安全装置的普及，HDI基板和FPC基板需要进一步向高密度化、高精细方向发展。

“MIYABI 7”在SCREEN 30多年不断积累的实绩经验的基础上，新搭载了自主开发的照明、摄像系统及检查逻辑。为提高最尖端电子用基板的可靠性、缩短交货期提供着强有力的支持。

● 新开发的照明系统可对所有基板实施高精度检查

自主设计的“多角线圆盖型光源”，不仅光通量均匀，而且通过所输入的扫描图像，对于多去难以保证图案部分和基材部分对比度的基板，也能以较强的对比度输入，从而获得良好的检查结果。此外，还搭载了可根据基材种类进行选择的3色LED光源，不仅适用于HDI基板、FPC基板，还可创建适合各种材质基板的最佳检查环境。

● 前端软件的设定非常简单

专用工作站“CU-9000”大幅升级！只需按照终端用户的指示书输入检查条件，即可自动设定为最佳条件。然后仅需执行选择方法和输入板厚这一简单操作，便可在大约15分钟内完成操作。

● MIYABI 7主机侧的设定也只需3步

读取检查数据并调整基板位置，对位结束后即准备完成。仅需3步即可开始检查。

● 可分别对PAD和线设定条件，进一步提高了缺陷检测精度

搭载了新开发的“Pad & Line Feature检查功能”。使用分别独立的参数对每种PAD宽、线宽进行长度测量检查，可高精度地检测出缺陷。

● 孔检查也采用新逻辑

可以以亚微米单位进行更加细致的长度测量，大幅度提升了对孔偏以及孔径、颈部折断等孔周边部位的各种缺陷的检测精度。

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